Mannhart J., Khanof S., Boschker H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate single crystal, mechanical losses, strain effects, PLD process, X-ray diffraction, resistive transition, thickness dependence
Applied Physics Letters, 2018, v.113, N 2, p.22605
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.